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德国Retsch Technology(莱驰科技)出席第九届中国颗粒学年会

201681214日,两年一届的“中国颗粒学会学术年会暨海峡两岸颗粒技术研讨会”在四川省成都市举办。来自全国各地的颗粒行业专家学者及制造企业齐聚一堂,交流颗粒学研究与技术的最新进展。

根据研究方向不同,大会分为多个分会场,包括颗粒的测试与表征、颗粒制备与应用技术、3D打印材料及技术、纳米涂层材料及防腐技术、颗粒形貌调控等等主题。

德国Retsch Technology(莱驰科技)的销售经理蔡斌先生在3D打印材料及技术专场发言,介绍了3D打印粉末材料粒度及球形度的分析方法。

3D打印粉末分为金属粉末和塑料粉末。目前,对粉末原料的粒度及球形度的分析手段主要是用激光粒度仪分析粒度,用扫描电镜来看颗粒的球形度情况。但扫描电镜有三个问题:1. 取样量太少,一次只能检测几百个颗粒,且取样随机性太强,结果没有代表性。2. 检测时间过长,平均一个样品需要45分钟。3. 没有量化的数值去评定结果。所以用SEM来分析粉末的球形度可行性并不高,需要一种更好的方法来替代。

Retsch Technology的干湿两用多功能粒度粒形分析仪Camsizer X2采用的是动态图像法,能同时检测颗粒的粒度及球形度,比激光法精度更高,进样量大,能给出量化的结果,检测速度快,是非常好的一种全新的分析方法。

CAMSIZER X2的专利测量技术——两个数字采样镜头能够实时记录颗粒的大小和形状,并自动优化,这样可以在800nm至8mm的范围内精确的分析样品,并在整个测量范围内无需人工调节和校正。

样品通过进样漏斗进入样品室,最大的优点是取样量大,样品极具代表性和重现性,分析过程可以完整的记录单个颗粒的整个下落过程。两个数字摄像镜头,分别具有不同的功能和效果,基准镜头(CCD-B)记录大颗粒的数据,聚焦镜头(CCD-Z)记录小颗粒的数据,封闭的光学系统可以同时并实时测量大的或小的颗粒并记录所有关于颗粒大小、形状、透明度、球形度等信息。

模块化的功能设计,如配置上在线装置,可以全自动的对产品的质量控制和粒形分析进行监测。

通过此次会议与专业的老师和同行们进行沟通和交流学习,对让与会者更全面真实地感受到颗粒测试表征领域技术与应用的突破。

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